聚光
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M5000 PLUS直讀光譜儀(AES)
産品概述:
M5000 PLUS高(gāo)性能(néng)全譜型火花(huā)直讀光譜儀,基于十幾年的火花(huā)直讀光譜技術,全新推出的基于CMOS(互補金(jīn)屬氧化物半導體)傳感器的光譜新産品,專爲金(jīn)屬材料分析行業打造的高(gāo)端火花(huā)直讀光譜儀。主要爲滿足金(jīn)屬冶煉、鑄造加工(gōng)及金(jīn)屬科學研究等過程中金(jīn)屬材料化學成分的分析檢測,實現(xiàn)精準質量控制。
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産品概述
M5000 PLUS高(gāo)性能(néng)全譜型火花(huā)直讀光譜儀,基于十幾年的火花(huā)直讀光譜技術,全新推出的基于CMOS(互補金(jīn)屬氧化物半導體)傳感器的光譜新産品,專爲金(jīn)屬材料分析行業打造的高(gāo)端火花(huā)直讀光譜儀。主要爲滿足金(jīn)屬冶煉、鑄造加工(gōng)及金(jīn)屬科學研究等過程中金(jīn)屬材料化學成分的分析檢測,實現(xiàn)精準質量控制。
産品特點
科研級CMOS檢測器,全元素分析,開(kāi)創PPM級元素分析新紀元
噪聲低(dī) 科研級感光元件噪聲小(xiǎo),抗幹擾強,具備防光暈技術
抗幹擾 CMOS探測器集成度高(gāo),可避免外(wài)部電路引入噪聲
讀取速度快(kuài) 采用(yòng)OEO(Optimal Element-Oriented)技術,像素信号單獨讀取,實現(xiàn)參數優化設計(jì)
紫外(wài)響應高(gāo) 超高(gāo)紫外(wài)響應靈敏度,無需鍍膜,實現(xiàn)非金(jīn)屬元素(N,C,S,P)分析,效果更優


經典雙光室設計(jì),光譜範圍寬,元素分辨率有保證
獨立設計(jì)的紫外(wài)光學系統,激發台直接采光,專爲N、C、S、P等紫外(wài)元素測量設計(jì),刻線數多,分辨率高(gāo),兼顧高(gāo)分辨和(hé)譜線範圍優勢,譜線範圍寬,分析元素多,性能(néng)好(hǎo)
單獨設計(jì)的紫外(wài)光學系統,體積小(xiǎo),結構簡單,無死角,采用(yòng)獨創多孔吹掃技術,可将空(kōng)氣迅速吹掃幹淨,确保元素分析效果


穩定性升級,重新定義光學産品穩定性
壓鑄鋁合金(jīn)整體光室,4級消除應力處理(lǐ)
光室恒溫設計(jì),保證光譜位置長期穩定,不漂移
氣流路的精确設計(jì),一切爲了(le)結果更穩定
RTMC光譜優化技術,帶來(lái)更穩定的體驗
全數字脈沖光源,自(zì)動選擇最優能(néng)量保證分析的準确性與重複性


易用(yòng)性升級,給用(yòng)戶更簡單、高(gāo)效的使用(yòng)體驗
優質硬件與特定算(suàn)法的完美(měi)結合,多重穩定保障,更好(hǎo)地監控儀器運行狀态,提升分析效果,減少校準頻率
支持全譜分析檢測,拓展性更高(gāo)。增加分析基體和(hé)元素無需增加硬件,通過軟件即可擴展分析範圍,使用(yòng)更靈活
智能(néng)曲線功能(néng)可滿足對(duì)所有材料的分析需求,真正實現(xiàn)未知(zhī)樣品分析,無需糾結模型選擇,操作(zuò)更加簡便
友好(hǎo)的人機交互設計(jì),軟件主界面簡潔清晰,圖形化顯示,短時(shí)間即可學會(huì)并熟練操作(zuò)軟件
新增遠程維護功能(néng),可遠程升級固件程序,遠程檢查儀器狀态,對(duì)儀器生命周期健康負責
應用(yòng)領域
應用(yòng)于冶金(jīn)、鑄造、機械加工(gōng)、鑄造、金(jīn)屬材料科研、航空(kōng)航天、造船(chuán)、汽車、海關檢驗、第三方檢測等諸多領域。
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