科研級CMOS檢測器,全元素分析,開(kāi)創PPM級元素分析新紀元
噪聲低(dī) 科研級感光元件噪聲小(xiǎo),抗幹擾強,具備防光暈技術
抗幹擾 CMOS探測器集成度高(gāo),可避免外(wài)部電路引入噪聲
讀取速度快(kuài) 采用(yòng)OEO(Optimal Element-Oriented)技術,像素信号單獨讀取,實現(xiàn)參數優化設計(jì)
紫外(wài)響應高(gāo) 超高(gāo)紫外(wài)響應靈敏度,無需鍍膜,實現(xiàn)非金(jīn)屬元素(N,C,S,P)分析,效果更優
創新的密封氩氣循環系統
光室密封性更佳,可保持内部氩氣長期純淨
分析環境相當于真空(kōng)光室10-3Pa,優化了(le)短波元素的分析性能(néng)
氩氣循環過濾裝置,可有效濾除空(kōng)氣分子,提高(gāo)光室的可靠性
光室内外(wài)壓力差幾乎爲零,可有效避免大(dà)氣壓力引起的光學系統漂移進而提高(gāo)産品的長期穩定性
降低(dī)充氩系統的氩氣消耗,有效節約生産成本
穩定性升級,重新定義光學産品穩定性
壓鑄鋁合金(jīn)整體光室,4級消除應力處理(lǐ)
光室恒溫設計(jì),保證光譜位置長期穩定,不漂移
氣流路的精确設計(jì),一切爲了(le)結果更穩定
RTMC光譜優化技術,帶來(lái)更穩定的體驗
全數字脈沖光源,自(zì)動選擇最優能(néng)量保證分析的準确性與重複性
高(gāo)性能(néng),更高(gāo)效,提升适用(yòng)性
方便的樣品激發台
開(kāi)放(fàng)式激發台,内部體積進一步縮小(xiǎo),氩氣消耗大(dà)大(dà)降低(dī)
四路氩氣吹掃,有效清除殘留粉塵,降低(dī)激發台維護量
個性化的的樣品夾具
可适用(yòng)于分析各類大(dà)小(xiǎo)形狀的樣品
人性化的一鍵式激發/停止按鈕
樣品裝載激發一氣呵成,無需軟件操作(zuò),直接得到(dào)數據結果
檢測時(shí)間大(dà)大(dà)縮短,有效提升工(gōng)作(zuò)效率
易用(yòng)性升級,給用(yòng)戶更簡單、高(gāo)效的使用(yòng)體驗
優質硬件與特定算(suàn)法的完美(měi)結合,多重穩定保障,更好(hǎo)地監控儀器運行狀态,提升分析效果,減少校準頻率
支持全譜分析檢測,拓展性更高(gāo)。增加分析基體和(hé)元素無需增加硬件,通過軟件即可擴展分析範圍,使用(yòng)更靈活
智能(néng)曲線功能(néng)可滿足對(duì)所有材料的分析需求,真正實現(xiàn)未知(zhī)樣品分析,無需糾結模型選擇,操作(zuò)更加簡便
友好(hǎo)的人機交互設計(jì),軟件主界面簡潔清晰,圖形化顯示,短時(shí)間即可學會(huì)并熟練操作(zuò)軟件
新增遠程維護功能(néng),可遠程升級固件程序,遠程檢查儀器狀态,對(duì)儀器生命周期健康負責